产品中心您现在的位置:首页 > 产品展示 > 杭州彩谱CHNSPEC > 分光测色仪 > 杭州彩谱 图像分光测色仪

杭州彩谱 图像分光测色仪

更新时间:2021-07-26

简要描述:

杭州彩谱 图像分光测色仪
图像分光测色仪是一款专业应用于复杂图像颜色测量的仪器;强大的性能配置,先进的图像数据处理技术,哪怕测量0.09平方毫米的区域,也能保证重复性在DE*ab0.1以内;它能解决岩彩漆、纺织纱线等产品的颜色测量、配色问题。

型号:厂商性质:代理商浏览量:80

杭州彩谱 图像分光测色仪

图像分光测色仪是一款专业应用于复杂图像颜色测量的仪器;强大的性能配置,先进的图像数据处理技术,哪怕测量0.09平方毫米的区域,也能保证重复性在DE*ab0.1以内;它能解决岩彩漆、纺织纱线等产品的颜色测量、配色问题。

仪器特点

  1. 自动校准

  2. 专业应用于复杂图像颜色测量

  3. 最小测量0.09mm^2区域----方寸之间,分毫毕现

  4. 保证和普通分光测色仪优*的数据传递性

  5. 24种标准光源,30+种测量指标

  6. 可以提供SCI/SCE测量结果


杭州彩谱 图像分光测色仪


技术参数


产品型号

图像分光测色仪

照明/测量条件

反射:d/8(漫射照明,8° 方向接收)

SCI(包含镜面反射光)/ SCE(不包含镜面反射光)同时测量。符合标准:CIE o.15GB/T 3978GB 2893GB/T 18833ISO7724/1DIN5033 Teil7JIS Z8722 条件CASTM E1164ASTM-D1003-07


传感器

硅光二极管阵列

分光方式

凹面光栅

积分球直径

152mm

测量波长范围

400nm-700nm

测量波长间隔

10nm

半波宽

5nm

反射率测量范围

0-200%,分辨率0.01%

照明光源

全光谱LED

测量口径

30*30mm,可定制任意尺寸

最小测量面积

0.3mm2

重复性

XLAV 色度值:标准偏差 ΔE*ab0.03以内,
最大值 ΔE*ab 0.1以内(0.3mm
2采样区域,仪器校正后,以10秒间隔测量白色校正板30次)

台间差

XLAV ΔE*ab 0.4(基于23°C时,测量BCRA Series系列12色板平均值)

标准观察者

2°标准观察者和10°标准观察者

观察光源

A,C,D50,D55,D65,D75,F1,F2,F3,F4,F5,F6,F7,F8,F9,F10,F11,F12,CWF,U30,DLF,NBF,TL83,TL84

颜色空间

L*a*b, L*C*h, Hunter Lab, Yxy, XYZ

色度指标

WI(ASTM E313-00,ASTM E313-73CIE/ISO,AATCC,Hunter,Taube,Berger Stensby)YI(ASTM D1925ASTM E313-00,ASTM E313-73),Tint(ASTM E313-00),同色异谱指数Milm,沾色牢度,变色牢度,ISO亮度,R457A密度,T密度,E密度,M密度,遮盖力,力份,强度

色差公式

ΔE*ab,ΔE*CH,ΔE*uv,ΔE*cmc,ΔE*94,ΔE*00,ΔEab(Hunter),555色调分类

操作温湿度

540°C, 相对湿度80%(35°C )以下无凝露

存储温湿度

-2045°C, 相对湿度80%(35°C )以下无凝露

附件

电源适配器、数据线、白板

接口

USB


留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7
在线咨询
在线客服