东京精密轮廓仪

简要描述：东京精密SURFCOM NEX 030（DX/SD型号）作为轮廓形状测量仪的标准机型，是面向轮廓形状测量的通用精度款设备，凭借高精度光栅尺搭载设计，实现了同等级设备中的优质测量精度，可精准捕捉纳米到数十毫米范围内的表面形状微细变化，为工业生产中的轮廓测量、质量管控提供专业的定量计测支持，广泛适配各类精密加工件的轮廓检测需求。

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更新时间：2026-02-26
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东京精密SURFCOM NEX 030（DX/SD型号）作为轮廓形状测量仪的标准机型，是面向轮廓形状测量的通用精度款设备，凭借高精度光栅尺搭载设计，实现了同等级设备中的优质测量精度，可精准捕捉纳米到数十毫米范围内的表面形状微细变化，为工业生产中的轮廓测量、质量管控提供专业的定量计测支持，广泛适配各类精密加工件的轮廓检测需求。

本款轮廓仪在核心驱动与测量结构上进行了精密设计，驱动部X轴采用线性光栅尺感应方式，搭配SURFCOM NEX 12/13/14/15/22/23/24/25等多款测量部型号，可满足不同场景的测量需求。在轮廓用通用传感器搭配下，X轴直线度精度可达1.0μm/100mm、2.0μm/200mm，指示精度为横向±(1.0 + 1.0L/100)μm（L为测量长度，单位mm）；轮廓测量时分辨率达0.016μm，移动速度可在0.03~60mm/s区间调节，测量速度为0.03~20mm/s，搭配可选配的倾斜装置，通用传感器可实现±15°的倾斜测量，进一步拓展测量场景。设备的测量台立柱移动速度最大可达10mm/s，底座选用辉长岩材质，该材质具备良好的稳定性与抗振性，能有效减少外界振动对测量精度的影响，为设备稳定运行提供基础保障。

在传感器配置上，设备搭载轮廓测量专用通用传感器E-DT-CH18B，纵向Z轴测量范围达60.0mm，同样采用高精度光栅尺感应方式，全量程测量分辨率为0.04μm，纵向指示精度为±（1.5 + |2H|/100）μm（H为测量高度，单位mm）。该传感器集成了上下测量、碰撞感应安全机构及缩回功能，测量过程中可有效保护传感器与被测工件，降低操作失误带来的损耗；搭配的轮廓用测针型号为DM45505，采用超硬合金材质打造，测针形状为25μmR/24°圆锥，具备良好的耐磨性与测量精准度，测针为交换式设计，测量力可在10~30mN范围内手动调整，能适配不同材质、不同精度要求的工件测量。

东京精密SURFCOM NEX 030轮廓仪的核心测量原理为测针跟踪工件表面，对工件截面轮廓形状进行放大显示并实施尺寸测量与评价，弥补了传统测量设备的应用短板。对于投影仪难以测量的凹面、孔内部形状，以及三坐标测量机测针无法抵达的小物体精细轮廓，本款设备均可实现精准测量，在精密机械、电子元件、精密模具等行业的小尺寸、复杂轮廓工件检测中发挥着重要作用。

设备可实现二维、三维数据的精准采集与定量计测，通过对测量数据的分析，能够清晰导出工件轮廓形状与材料、加工工艺、产品性能之间的相关关系，帮助企业在生产过程中优化加工工艺、管控产品质量，实现对生产流程的精细化管理。同时，东京精密围绕表面粗糙度与轮廓形状测量需求打造了完整的产品系列，可根据不同行业、不同测量场景的个性化需求，为客户匹配适配的测量设备，满足工业生产中的各类精密测量需求。

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