HORIBA 纳米颗粒分析仪

HORIBA 纳米颗粒分析仪

以先进的技术简单而*确地呈现纳米粒子尺寸及分散体系的稳定性，为您开启纳米科技前进之门！

纳米技术的研发是一个持续不断的过程，在分子和原子水平上控制物质 以获得更新、更好、更先进的材料和产品。 为了得到效率更高性能更好的产品，并减少能量的消耗，

简单操作即可对纳米颗粒进行多参数分析！

粒径测量范围 0.3nm ~ 10μm

SZ-100V2系列采用动态光散射原理(DLS)测量粒径大小及分布，实现了超宽浓度范围的样品测量， 不论浓度是 ppm 级还是高达百分之几十，均可准确测量。可使用市售样品池。测量微量样品也极 为方便。

Zeta 电位测量范围 −500 ~ +500mV

使用 HORIBA *创的微量样品池，样品量仅需 100 µL。通过 Zeta 电位值可以预测及控制分散体系的稳定性。 Zeta 电位越高意味着分散体系越稳定，对于配方研究工作意义重大。

分子测量范围 1×103 ~ 2×107

通过测量不同浓度样品的静态散射强度并通过德拜记点法计算分子质量 (Mw) 和第二维利系数 (A2)。

SZ-100V2 系列超高的智能化和学习能力可以快速为您确定纳米粒子的特性！

● SZ-100V2 系列可测量的样品浓度范围很广，所以几乎无需对样品进行稀释和其他处理。*的双光路系统 (90°和 173° ) 设计，既能对高浓度样品进行测量，如 釉浆和颜料，也能测量低浓度样品，如蛋白质和聚合物。

● 将表征纳米粒子的三大参数的测量融于一体：粒子直径、Zeta 电位和分子量。

● HORIBA 开发的一次性 Zeta 电位测量样品池可杜绝样品污染。超微量样品池 ( 小容量 100 µL) 简单易用，且适合分析稀释的样品。

● HORIBA 研发的 Zeta 电位石墨电极，可用于测量强腐蚀性的高盐样品。

HORIBA 纳米颗粒分析仪